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XRF光譜水泥分析儀測(cè)量水泥中關(guān)鍵元素并滿足ASTM C114精度要求

更新時(shí)間:2022-08-22      點(diǎn)擊次數(shù):993

XRF光譜水泥分析儀EDX9000B plus用于測(cè)量水泥中的關(guān)鍵元素并滿足ASTM C114精度要求

水泥生產(chǎn)商必須保持生產(chǎn)流程準(zhǔn)確、高效運(yùn)行,從而確保他們的客戶獲得適合特定應(yīng)用的優(yōu)質(zhì)材料。X 射線熒光 (XRF) 光譜法最重要的應(yīng)用之一是在生產(chǎn)環(huán)境中分析水泥。毫無疑問,用于評(píng)估用于分析水泥的 XRF 儀器(和其他分析技術(shù))性能的廣泛使用的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法是 ASTM C-114,水硬性水泥化學(xué)分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法。

我們進(jìn)行了一項(xiàng)研究,以確認(rèn)水泥分析儀EDX9000B plus 儀器可以滿足標(biāo)準(zhǔn)ASTM C-114對(duì)水泥分析的要求,同時(shí)在不犧牲性能的情況下縮短分析時(shí)間。

儀器測(cè)量參數(shù)設(shè)定

所測(cè)試的水泥分析儀EDX9000B plus新型XRF光譜儀配備有最大功率為50瓦的具有薄Be窗口的風(fēng)冷Rh靶材管。它配備了超高分辨率的電冷卻硅漂移探測(cè)器(FSDD)。該儀器具有7個(gè)初級(jí)濾光片,可確保始終找到最佳激發(fā)條件。使用兩種激發(fā)條件來覆蓋表所有目標(biāo)分析物:一種條件在6kV下不帶過濾光片以激發(fā)從鈉到硫的所有輕元素,另一種在30kV下使用薄Mo過濾光片來激發(fā)所有剩余目標(biāo)分析物。我們使用了300秒的總生存時(shí)間來完成一個(gè)樣品分析。所有測(cè)量均在真空條件下進(jìn)行。

樣品制備方法為為粉末壓片技術(shù)

所有樣品經(jīng)粗磨后還必須進(jìn)一步細(xì)磨,在30MPa壓力下加壓成型,以減小顆粒效應(yīng)、礦物效應(yīng)、元素間吸收-增強(qiáng)效應(yīng)。

?細(xì)磨

白生料:稱量30g樣品(精確到0.05g),0.2g硬脂酸(精確到0.0001g)(助磨劑,以防止細(xì)磨過程中結(jié)塊,提高研磨效率),放入振動(dòng)磨中,細(xì)磨2分鐘。

熟料:稱量30g樣品(精確到0.05g),放入振動(dòng)磨中,往磨中加10滴乙醇,細(xì)磨2分鐘。

石膏、鐵粉:稱量30g樣品(精確到0.05g),1g硬脂酸(精確到0.0001g),放入振動(dòng)磨中,細(xì)磨3分鐘。

砂巖、頁巖、粉煤灰:稱量20g樣品(精確到0.05g),2g硬脂酸(精確到0.0001g),放入振動(dòng)磨中,細(xì)磨1分鐘。

上述細(xì)磨時(shí)間僅供參考。用戶應(yīng)該根據(jù)本廠振動(dòng)磨的研磨效率,通過實(shí)驗(yàn)來確定最佳研磨時(shí)間。一般可用一參考樣品,不斷增加對(duì)它的研磨時(shí)間,同時(shí)測(cè)量其特征X射線強(qiáng)度,直至測(cè)得的強(qiáng)度不再升高(或降低)趨于恒值為止。注意:在細(xì)磨每個(gè)樣品前,必須將振動(dòng)磨的料缽清洗干凈。細(xì)磨后的樣品,放入小磨口瓶中保存,貼上標(biāo)簽,注明樣品編號(hào)、日期。



可分析水泥含量范圍如下圖

XRF光譜儀分析水泥含量范圍.png

水泥分析儀EDX9000Bplus 水泥基體檢出限

Na2O--0.018%

MgO --0.011%

Al2O3 -- 0.006%

SiO2   --0.003%

P2O5 -- 0.002%

SO3   --0.001%

K2O -- 0.005%

CaO   --0.003%

TiO2 -- 0.003%

Mn2O3   --0.001%

Fe2O3 -- 0.001%

ZnO   --0.00%

堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì),使得水泥分析儀EDX9000B plus可24小時(shí)全天候在水泥廠現(xiàn)場(chǎng)使用。快速分析原材料、中間產(chǎn)品(即熟料)和成品水泥。交付,預(yù)先標(biāo)定的工廠程序使得用戶快速分析水泥和礦物成分,測(cè)量水泥中的所有關(guān)鍵元素,滿足ASTM C114(水硬性水泥XRF分析)精度要求


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