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  • EDX8000T Plus鍍層測厚光譜儀

    材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優(yōu)點是準(zhǔn)確,快速,無損,操作簡單,測量速度快??赏瑫r分析多達(dá)五層材料厚度,并能對鍍層的材料成分進(jìn)行快速鑒定。

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    產(chǎn)品價格:面議
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-04-08
  • EDX8000T膜厚儀X射線鍍層測厚儀

    膜厚儀X射線鍍層測厚儀EDX8000T 膜厚儀EDX-8000T 型XRF鍍層測厚儀/電鍍液分析儀 Simply The Best 垂直光路設(shè)計,專為鍍層厚度分析而設(shè)計 高分辨率硅針檢測器 (Si-pin) ,適合于多元素鍍層的高靈敏度分析,比起傳統(tǒng)的封氣正比計數(shù)器,Si-pin探測器具有更佳分辨率、更低的背景噪聲(最高 S/N 比)長期穩(wěn)定性以及更長的使用壽命 工業(yè)級高清樣品觀測系統(tǒng)

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    產(chǎn)品價格:100000
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-04-08
  • EDX8000T PLUSX射線鍍層測厚儀

    X射線鍍層測厚儀EDX8000T PLUS 微光斑垂直光路,專為鍍層厚度分析而設(shè)計 高計數(shù)率硅漂移檢測器 (SDD) 可實現(xiàn)快速,無損,高精度測量 高分辨率樣品觀測系統(tǒng),精確的點位測量功能有助于提高測量精度 全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量

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    產(chǎn)品價格:面議
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-04-08
  • EDX-8000B光譜膜厚儀

    EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會對樣品造成損壞。同時,EDX-8000B光譜膜厚儀測量的也可以在10秒-30秒內(nèi)完成。

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    產(chǎn)品價格:面議
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  • XRF鍍層測厚儀

    XRF鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒-30秒內(nèi)完成。

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