亚洲一区日韩,国产精品一二三四区,伊人久久大香线蕉综合75,琪琪布电影网

歡迎來到蘇州英飛思科學儀器有限公司網站!
咨詢熱線

18962188051

當前位置:首頁  >  技術文章  >  X熒光測硫儀測量時要注意樣品臺板的位置

X熒光測硫儀測量時要注意樣品臺板的位置

更新時間:2024-06-24      點擊次數(shù):481
X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。其原理是用X光激發(fā)源照射待分析的油樣,樣品中硫元素的內層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候,會放射出硫元素的特征 X 光。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號,儀器軟件系統(tǒng)將其轉為對應的測試強度。用標準物質樣品建立特征X射線強度與硫含量之間的關系,也就是標定曲線。在建立了硫元素不同含量范圍的標定曲線后,再去測試未知樣品,便可快速分析石油及其他液體中的硫含量。
參考樣和待測樣品被置于同一載樣臺板上。當取樣孔可以取樣時,參考樣位于測量位置,此時顯示屏右下角有:“參考樣位于測量位置”字樣,當擋板蓋住取樣孔時,待測樣位于測量位置,此時顯示屏左下角有:“待測樣位于測量位置”字樣。
樣品臺板只能處于測“參考樣”位置或測“待測樣”位置,不能處于其它任何中間位置,處于其它位置儀器將報警,也不能正常工作。
儀器在不測含量時,載樣處于測“參考樣”位置。儀器自動對參考樣采樣,且采用當前的數(shù)據(jù)平均值,供儀器測量含量時使用,這樣儀器一直處于等待狀態(tài),放入待測樣就可以分析。
蘇州英飛思科學儀器有限公司
  • 聯(lián)系人:張經理
  • 地址:江蘇省蘇州工業(yè)園區(qū)唯新路69號一能科技園2幢407
  • 郵箱:sales@esi-xrf.com
  • 傳真:
關注我們

歡迎您加我微信了解更多信息

掃一掃
聯(lián)系我們
版權所有©2024蘇州英飛思科學儀器有限公司All Rights Reserved    備案號:蘇ICP備2021018034號-2    sitemap.xml    總流量:149736
管理登陸    技術支持:化工儀器網