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X熒光光譜?礦石分析儀對(duì)巖石礦物中高含量Cu,Pb,Zn的XRF法測(cè)定

更新時(shí)間:2022-12-02      點(diǎn)擊次數(shù):870

巖石礦物中高含量Cu,Pb,Zn的XRF法測(cè)定---Compass200光譜?礦石分析儀


儀器: Compass200礦石分析儀

方法:X 射線熒光光譜儀

樣品:以貴州鉛鋅礦為檢測(cè)對(duì)象。測(cè)試選擇的是黃沙坪鉛鋅礦中的 5 塊標(biāo)本樣品,其中方鉛礦、閃鋅礦石標(biāo)本 5 塊(編號(hào)分別為 1、2、3、4、5 號(hào)),灰?guī)r 2 塊(3 號(hào)樣品),磁鐵礦化矽卡巖 2 塊(4號(hào)樣品),鐵、鉬、鎢多金屬礦石 1 塊(5 號(hào)樣品)。按測(cè)試要求取樣,并且最大取樣量不超過(guò)整塊標(biāo)本的二分之一,切割取樣體積約為 8 cm×6 cm×6 cm。

樣品前處理

無(wú)損測(cè)試:取樣后的標(biāo)本樣品直接采用便攜式 X 射線熒光光譜儀Compass200分析測(cè)試。

壓片測(cè)試:樣品破碎研磨過(guò) 200 目篩,稱取 4 g,硼酸墊底,壓片成型,采用便攜式 X 射線

熒光光譜儀Compass200礦石分析儀測(cè)試。

定量測(cè)試:樣品破碎研磨過(guò) 200 目篩后熔融或酸溶,采用 X 射線熒光光譜儀Compass200礦產(chǎn)分析儀定量測(cè)試。

樣品制備完成后,采用線性插入法計(jì)算光譜背景,用便攜式Compass200熒光光譜儀測(cè)定巖石礦物中高含量Cu,Pb,Zn,取得較滿足結(jié)果.與化學(xué)分析法比較,具有良好的精密度和準(zhǔn)確度

從表中可以看出:便攜式 X 射線熒光光譜礦石分析儀Compass200測(cè)定 Ca、Mn、Fe、Cu、Zn、Pb 等常量組分和微量組分具有一定的可比性,痕量組分測(cè)試結(jié)果差異較大;表明便攜式 X 射線熒光光譜儀Compass200對(duì)于銅、鉛、鋅、鐵等主要礦物元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)檢測(cè)結(jié)果相對(duì)準(zhǔn)確、穩(wěn)定,對(duì)于伴生元素等質(zhì)量分?jǐn)?shù)較低的則有很大的不確定性。對(duì)于鉛鋅礦石實(shí)物地質(zhì)資料,若樣品均勻性好,常量組分和微量組分建議考慮采用便攜式 X 射線熒光光譜Compass200礦石測(cè)定儀進(jìn)行無(wú)損測(cè)試,也可用于定性檢測(cè)等預(yù)研究。

由于基體效應(yīng)、幾何效應(yīng)和礦化不均勻效應(yīng)的影響,便攜式 X 射線熒光Compass200礦石分析儀測(cè)試礦物標(biāo)本測(cè)試結(jié)果跳躍性很大,不具有代表性;隨著測(cè)試點(diǎn)的增多,測(cè)試結(jié)果能接近真值。由于礦物顆粒不均勻,如果將樣品破碎研磨壓制成片,礦物顆粒均勻性較好,能夠基本消除幾何效應(yīng)和礦化不均勻效應(yīng),測(cè)試結(jié)果比較穩(wěn)定。1 號(hào)樣品、2 號(hào)樣品中 Ca、Fe 等元素測(cè)定結(jié)果的差異可能是由于基體效應(yīng)的干擾。

隨著科技的進(jìn)步,元素分析技術(shù)發(fā)展突出的變化是形成了以 X 射線熒光光譜法、電感耦

合等離子體發(fā)射光譜法和電感耦合等離子體質(zhì)譜法為主導(dǎo)的分析技術(shù)體系,可同時(shí)測(cè)多種元素, 分析效率高。根據(jù)樣品類型,盡可能采用比較*儀器測(cè)試分析技術(shù),但由于實(shí)驗(yàn)用鉛鋅礦中

鐵鉛鋅含量偏高,超出儀器方法的檢測(cè)范圍,容易損傷儀器,因此鐵、鋅、鉛采用化學(xué)滴定法進(jìn)

行測(cè)定。



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