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EDX-6000貴金屬珠寶檢測(cè)儀

簡(jiǎn)要描述:EDX-6000貴金屬珠寶檢測(cè)儀
全新設(shè)計(jì)的EDX6000光譜儀,使用了垂直光路的設(shè)計(jì),有效提高了非平面樣品(比如戒指)的定位和測(cè)試精度。同時(shí),垂直光路使光管與樣品位置更近,能更高效激發(fā)樣品
垂直光路測(cè)金儀
不同于傳統(tǒng)45度角斜照式光譜儀光路設(shè)計(jì)
垂直90度角光路設(shè)計(jì)有效解決弧面樣品測(cè)試,如戒指,指環(huán)等
提高照射精度,降低樣品形狀對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響

  • 產(chǎn)品廠(chǎng)地:蘇州市
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2024-10-29
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:1278

詳細(xì)介紹

品牌英飛思行業(yè)專(zhuān)用類(lèi)型通用
價(jià)格區(qū)間面議儀器種類(lèi)臺(tái)式/落地式
應(yīng)用領(lǐng)域綜合

EDX-6000貴金屬珠寶檢測(cè)儀 能量色散X熒光光譜儀

黃金檢測(cè)專(zhuān)家

EDX-6000能量色散X熒光測(cè)金儀

Simply the Best

>小光斑(1mm),精確定點(diǎn)測(cè)試

>垂直光路設(shè)計(jì),有效降低非平面樣品對(duì)測(cè)試結(jié)果影響

>精準(zhǔn),快速,無(wú)損

>一鍵測(cè)試,快速上手

>無(wú)需每天重復(fù)標(biāo)定,提高檢測(cè)效率

>拓展應(yīng)用---鍍層和電鍍液分析

>堅(jiān)固耐用,適應(yīng)復(fù)雜工作環(huán)境

EDX6000-小光斑黃金檢測(cè)儀---能量色散XRF

并不是所有閃閃發(fā)光的都是黃金,如果您想確切知道其中包含的黃金量,可以依靠我們的X射線(xiàn)熒光(XRF光譜儀EDX6000,您可以快速檢查珠寶的真實(shí)性并分析貴金屬其他雜質(zhì)金屬含量而且不同于火試金測(cè)量法,我們的設(shè)備對(duì)樣品是*無(wú)損地

全新設(shè)計(jì)的EDX6000光譜儀,使用了垂直光路的設(shè)計(jì),有效提高了非平面樣品(比如戒指)的定位和測(cè)試精度。同時(shí),垂直光路使光管與樣品位置更近,能更高效激發(fā)樣品


圖片3.png

EDX6000光譜光路設(shè)計(jì)1-1


圖片4.png

普通光譜儀光路設(shè)計(jì)1-2



圖片5.png



內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖1-3


檢測(cè)對(duì)象 黃金、鉑金、鈀金、K金、K白金,合金,電鍍液等

EDX-6000貴金屬珠寶檢測(cè)儀

產(chǎn)品特點(diǎn)

  1. 微光斑(1mm,zui低0.5mm),1mm樣品檢測(cè)面積。利用我們的集成攝像頭和小點(diǎn)功能,來(lái)捕獲圖像并專(zhuān)注于小區(qū)域檢測(cè)。

  2. du特垂直光路設(shè)計(jì),提高復(fù)雜樣品檢測(cè)精度

  3. 多準(zhǔn)直器可選(0.5mm,1mm,2mm)

  4. FP(基本參數(shù)法)核心算法,無(wú)需標(biāo)定,一次測(cè)試多達(dá)30種金屬元素

  5. 自主研發(fā)第三代DPP(digital pulse processor)數(shù)字脈沖處理器,更穩(wěn)定

  6. 全新光管風(fēng)冷技術(shù),有效延長(zhǎng)光管使用壽命


黃金珠寶首飾檢測(cè)專(zhuān)家EDX6000

>儀器參數(shù)


儀器外觀(guān)尺寸: 400mm*405mm*455mm

樣品腔:300mm*310mm*104mm

儀器重量: 38 kg

元素分析范圍:K19-U92鉀到鈾

可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

探測(cè)器:AmpTek 高分辨率電制冷硅檢測(cè)器Si-Pin

多道分析器: 4096DPP analyzer 分析器

X光管:50W高功率鈹窗光管

高壓發(fā)生裝置:電壓最大輸出50kV,自帶電壓過(guò)載保護(hù)

電壓:220ACV 50/60HZ

環(huán)境溫度:-10 °C 35 °C



儀器配置


>標(biāo)準(zhǔn)配置

>可選配置

Au初始化標(biāo)樣

交流凈化穩(wěn)壓電源

戒指樣品夾

黃金標(biāo)樣

USB數(shù)據(jù)線(xiàn)


電源線(xiàn)


測(cè)試薄膜


儀器出廠(chǎng)和標(biāo)定報(bào)告


保修卡




功能強(qiáng)大界面友好的FP測(cè)試軟件

測(cè)試譜圖14K黃金


圖片6.png



  1. 一鍵測(cè)試,客戶(hù)只需要打開(kāi)儀器蓋子,放入樣品,點(diǎn)擊‘開(kāi)始’按鈕即可完成測(cè)試

  2. 核心FP算法,使得EDX6000匹配實(shí)驗(yàn)室火試金法的測(cè)試精度

  3. 元素含量,黃金K值,測(cè)試譜圖一目了然

  4. 一鍵打印測(cè)試報(bào)告

  5. 多點(diǎn)測(cè)試功能??蛻?hù)可以測(cè)量樣品多個(gè)點(diǎn)位,軟件自動(dòng)計(jì)算平均值。


及時(shí)而專(zhuān)業(yè)的售后服務(wù)

>對(duì)客戶(hù)方操作人員進(jìn)行技術(shù)培訓(xùn)

>現(xiàn)場(chǎng)安裝、調(diào)試、驗(yàn)收服務(wù)

>產(chǎn)品*維修

>免費(fèi)提供軟件升級(jí)

>提供zuigao的技術(shù)服務(wù),在接到用戶(hù)故障信息后,8小時(shí)內(nèi)響應(yīng),如有需要,48小時(shí)內(nèi)工程師上門(mén)維修和排除故障









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